Se forma a los usuarios para manejar la Base de Datos de Cambridge (CSD) que contiene datos estructurales cristalográficos derivados de estudios de difracción de rayos X en compuestos orgánicos, organometálicos y complejos metálicos.
Se enseña a los usuarios a utilizar la Base de Difracción de Polvo (PDF-2) que almacena las fichas de patrones de referencia, las cuales contienen información sobre datos cristalográficos, condiciones de medida y bibliografía de compuestos orgánicos, inorgánicos y minerales.
Se organizan visitas para alumnos de diferentes licenciaturas que comprenden explicaciones del funcionamiento de los equipos, así como de las principales aplicaciones de las técnicas difractométricas, incluyendo experimentos prácticos realizados por ellos mismos.
